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蔡司推出新型场发射扫描电子显微镜
2020/11/27 8:47:44 阅读: 153次
  近日,蔡司展示了其新一代的场发射扫描电子显微镜(FESEM)系列ZEISS GeminiSEM。新型蔡司GeminiSEM 360、460和560专为亚纳米成像和轻松分析而量身定制。用户将受益于电子光学技术的创新和提供更好图像质量,可用性和灵活性的新型腔室设计。
 
  现已推出的ZEISS GeminiSEM 560首次将以ZEISS Gemini 3色谱柱推向市场。
 
  新型蔡司GeminiSEM系列可提供任何样品的更多信息,较大程度地减少样品损坏并防止样品伪影。这三种型号均采用全新的腔室设计,使研究人员能够比以前引入更大和更多的样品,从而使核心设施现在可以在一台仪器中为更多的分析应用提供服务。蔡司双子座电子光学镜筒的独特设计以及大而灵活的新型反应室,可满足所有成像和分析需求。较大的腔室可实现可配置性和灵活性,以适应即将到来的研究任务并优化分析工作流程。
 
  新型电子光学柱和智能自动驾驶仪
 
  蔡司GeminiSEM 560设定了表面成像的新标准。引入了带有纳米双透镜的新型蔡司Gemini 3电子光学器件及其新型电子光学引擎Smart Autopilot,该器件经过定制,可在以高分辨率对最敏感的样品成像时易于使用。在蔡司GeminiSEM系列产品中,560型在所有工作条件下均可提供较高分辨率,并在着陆能量低于1 kV时突破了浸没和无单色表面成像的极限。
 
  非导电矿物蒙脱石在断裂表面上的纳米级特征,在低着陆能量下可视化,蔡司GeminiSEM 560,Inlens SE图像,800 V,比例尺为100 nm。
 
  在成像和分析中提高效率和易用性
 
  该系统可以轻松地从标准设置过渡到高级设置。新的概览模式简化了样品的定向。用户可以轻松地从低放大率导航到高放大率,而无需调整列的对齐方式。该系统可提供同类产品中最大的无失真视场。这样就可以对大型的,具有挑战性的样品进行成像,例如材料研究中的磁性样品。改进后的自动功能是目前世界上较快的,其自动对焦功能可在不到一秒钟的时间内提供聚焦图像。
摘自:化工仪器网
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